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XAFS技术在单原子电催化中的应用
汪思聪, 庞贝贝, 刘潇康, 丁韬, 姚涛
高等学校化学学报    2022, 43 (9): 20220487-.   DOI:10.7503/cjcu20220487
摘要   (1986 HTML66 PDF(pc) (16209KB)(635)  

X射线吸收精细谱学(XAFS)技术是从20世纪80年代开始逐渐发展起来的一种材料表征技术, 具有对中心吸收原子的局域结构和化学环境敏感的特征, 非常适合表征单原子催化剂. 本文从XAFS技术的原理和特点出发, 深入探讨了该技术在电催化水分解、 燃料电池阴极反应和二氧化碳电化学还原等多个单原子催化应用场景下的独特作用, 并展望了XAFS技术在单原子电催化领域的未来发展与应用前景, 以期为更深入明确的单原子催化剂结构表征和电催化机理描述提供指导.



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Fig.1 Cu K?edge XAFS spectrum for Cu foil
正文中引用本图/表的段落
XAFS现象本质上来源于入射X射线激发出的光电子与周围原子的散射作用. 对绝大部分元素而言, XAFS谱可以粗略地分为两部分[18]: X射线吸收近边结构(X-Ray absorption near edge structure, XANES)和扩展X射线吸收精细结构(Extended X-ray absorption fine structure, EXAFS)(图1). 两个区域的XAFS谱来源于不同种类的X射线散射作用, 对不同的结构信息敏感.
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