[1] |
Shang M., Wang W. Z., Zhang L., Sun S. M., Wang L., Zhou L., J. Phys. Chem. C, 2009, 113, 14727—14731
|
[2] |
Su C. Y., Shao C. L., Liu Y. C. , Journal of Colloid and Interface Science, 2011, 359, 220—227
|
[3] |
Zhu P. N., Nair A. S., Peng S. J., Peng S. J., Yang S. Y., Ramakrishna S., Appl. Mater. Interfaces, 2012, 4, 581—585
|
[4] |
Jin Q. W., Wang K. X., Wang J. Q., Li X. B., Chen J. S., Chem. Res. Chinese Universites, 2011, 27(5), 886—869
|
[5] |
Jing L. Q., Sun X. J., Xin B. F., Wang B. Q., Cai W. M., Fu H. G., Journal of Solid State Chemistry, 2004, 177(10), 3375—3382
|
[6] |
Shang L., Li B. J., Dong W. J., Chen B. Y., Li C. R., Tang W. H., Journal of Hazardous Materials, 2010, 178, 1109—1114
|
[7] |
Ren W. J., Ai Z. H., Jia F. L., Zhang L. Z., Fan X. X., Zou Z. G., Appl. Catal. B: Environ., 2007, 69(3/4), 138—144
|
[8] |
Zhang L. W., Fu H. B., Zhu Y. F., Adv. Funct. Mater., 2008, 18(15), 2180—2189
|
[9] |
Wang Q. Q., Xu S. H., Shen F. L., Applied Surface Science, 2011, 257, 7671—7677
|
[10] |
Shi Z. L., Zhang X. X., Yao S. H., Particuology, 2011, 9, 260—264
|
[11] |
Mitoraj D., Kisch H., Angew. Chem. Int. Ed., 2008, 47(51), 9975—9978
|
[12] |
Mu J. B., Chen B., Zhang M. Y., Guo Z. C., Zhang P., Zhang Z.Y., Sun Y. Y., Shao C. L., Liu Y. C., Appl. Mater. Interfaces, 2012, 4, 424—430
|
[13] |
Zhang M.Y., Shao C. L., Mu J. B., Zhang Z. Y., Guo Z. C., Zhang P., Liu Y. C., CrystEngComm, 2012, 14, 605—612
|
[14] |
Liu R. L., Ye H. Y., Xiong X. P., Liu H. Q., Materials Chemistry and Physics, 2010, 121, 432—439
|
[15] |
Liu Z. Y., Sun D. D., Guo P., Leckie J. O., Nano Lett., 2007, 7(4), 1081—1085
|
[16] |
Cao T. P., Li Y. J., Wang C. H., Shao C. L., Liu Y. C., Langmuir, 2011, 27, 2946—2952
|
[17] |
Tang P. S., Tong Y., Chen H. F., Cao F., Pan G. X., Current Applied Physics, 2013, 13, 340—343
|
[18] |
Gao K., Li S. D., Applied Surface Science, 2012, 258, 6460—6464
|
[19] |
Jing L. Q., Qu Y. C., Su H. J., Yao C. G., Fu H. G., J. Phys. Chem. C, 2011, 115, 12375—12380
|
[20] |
Folven E., Tybell T., Scholl A., Young A., Retterer S. T., Takamura Y., Grepstad J. K., Nano Lett., 2010, 10, 4578—4583
|
[21] |
Zhang P., Shao C. L., Li X. H., Zhang M. Y., Zhang X., Sun Y. Y., Liu Y. C., Journal of Hazardous Materials, 2012, 237/238, 331—338
|
[22] |
Xu J., Wang W. Z., Shang M., Gao E. P., Zhang Z. J., Ren J., Journal of Hazardous Materials, 2011, 196, 426—430
|
[23] |
Ostermann R., Li D., Yin Y. D., McCann J. T., Xia Y. N., Nano Lett., 2006, 6(6), 1297—1302
|
[24] |
Wang W., Yuan Q., Chi Y., Shao C. L., Li N., Li X. T., Chem. Res. Chinese Universites, 2012, 28(4), 727—731
|
[25] |
Zhang Z. J., Wang W. Z., Wang L., Sun S.M., Appl. Mater. Interfaces, 2012, 4, 593—597
|
[26] |
Zhang P., Shao C. L., Zhang M. Y., Cuo Z. C., Mu J. B., Zhang Z. Y., Zhang X., Liu Y. C., Journal of Hazardous Materials, 2012, 217/218, 422—428
|
[27] |
Zhang P., Shao C. L., Zhang M. Y., Guo Z. C., Mu J. B., Zhang Z. Y., Zhang X., Liang P. P., Liu Y. C., Journal of Hazar-dous Materials, 2012, 229/230, 265—272
|
[28] |
Sun S. M., Wang W. Z., Xu H. L., Zhou L., Shang M., Zhang L., J. Phys. Chem. C, 2008, 112, 17835—17843
|
[29] |
Roberta T. D., Laudeb L. D., Geskin V. M., Lazzaroni R., Gouttebaron R., Thin Solid Films, 2003, 440, 268—277
|
[30] |
Viswanathamurthi P., Bhattarai N., Kim C. K., Kim H. Y., Lee D. R., Inorg. Chem. Commun., 2004, 7, 679—682
|
[31] |
Yan H., Chun W. Y., J. Cryst. Growth, 2005, 274(3), 563—568
|
[32] |
Zhang L., Wang W. Z., Shang M., Sun S. M., Xu J. H., Journal of Hazardous Materials, 2009, 172, 1193—1197
|
[33] |
Zeng H. C., Current Opinion in Chemical Engineering, 2011, 1, 11—17
|
[34] |
Dong W. J., Zhu Y. J., Huang H. D., Jiang L. S., Zhu H. J., Li C. R., Chen B. Y., Shi Z., Wang G., J. Mater. Chem. A, 2013, 1, 10030—10036
|
[35] |
Kaliaguine S., Neste V. A., Szabo V., Gallot J. E., Bassir M., Muzychuk R., Applied Catalysis A: General, 2001, 209, 345—358
|
[36] |
Lv J., Kako T., Zou Z.G., Ye J. H., Appl. Phys. Lett., 2009, 95, 032107-1—032107-3
|