莫凤珊1,3, 朱国贤1,3, 夏长泰2,3, 石春山3
MO Feng-Shan1,3, ZHU Guo-Xian1,3, XIA Chang-Tai2, SHI Chun-Shan3*
摘要: KMgF3∶Eu晶体中Eu3+→Eu2+的转换率在低浓度掺杂时接近100%, 完全转换的饱和掺杂摩尔分数为0.29%. 实验条件下, KMgF3晶体的X射线1 h辐照损伤可在约100 h后恢复; KMgF3∶Eu2+晶体经X射线辐照后, 360 nm锐峰发射强度略有降低. 不同剂量的γ射线辐照, KMgF3晶体热释光曲线的各个温度峰强度变化明显不同, 即使小剂量辐照, 造成的损伤也较难恢复, 如γ射线辐照剂量为103 Gy时, 辐照损伤的恢复时间约需30 d. KMgF3∶Eu2+晶体360 nm锐峰发射强度随γ射线辐照剂量增大而呈线性降低.
中图分类号:
TrendMD: