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碳酸酯类溶剂对钠离子电池硬碳负极电化学性能的影响机制
陶睿敏, 李添奕, 茹梦令, 陈爽, 崔永莉
高等学校化学学报    2026, 47 (2): 20250294-.   DOI:10.7503/cjcu20250294
摘要   (145 HTML2 PDF(pc) (10842KB)(41)  

针对钠离子电池硬碳(HC)负极, 设计以六氟磷酸钠(NaPF6)为钠盐, 在碳酸乙烯酯(EC)基溶剂中添加碳酸丙烯酯(PC)和碳酸二甲酯(DMC)作为混合溶剂的电解液, 探究了不同溶剂协同组合对HC负极电化学性能的影响. 采用分子动力学(MD)模拟分析了电解液溶剂化结构和钠离子在电解液中的扩散系数; 通过电导率、 充放电、 循环性能和倍率性能等测试对比分析了HC负极在EC基电解液中的电化学性能, 并通过循环伏安(CV)、 恒电流间歇滴定技术(GITT)及电化学阻抗谱(EIS)分析钠离子存储动力学行为, 并通过扫描电子显微镜(SEM)、 透射电子显微镜(TEM)和X射线光电子能谱(XPS)等对硬碳表面形貌和成分进行分析. 结果表明, DMC和PC协同作用可以显著提高电解液的离子电导率和钠离子扩散速率、 优化溶剂化结构, 减少有机副产物并增加阴离子配位, 促进固体电解质介面(SEI)膜中无机物的生成, 有效降低SEI膜阻抗和电荷传递阻抗, 同时提高钠离子在HC中的扩散系数, 使HC负极在1 mol/L NaPF6-EC/PC/DMC电解液中具有相对优异的倍率性能和充放电循环性能, 在50 mA/g电流密度下初始容量为362.0 mA·h/g, 循环50次后, 容量衰减至353.4 mA·h/g, 容量保持率为97.6%. 因此, EC/PC/DMC混合溶剂是钠离子电池HC负极最具有应用前景的溶剂之一.



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Fig.2 XRD pattern(A), Raman spectrum(B), FTIR spectrum(C), survey XPS spectrum(D), high⁃resolution XPS spectrum of C1s (E) and O1s (F) of HC material
正文中引用本图/表的段落
图2(A)~(F)分别为HC材料的XRD, Raman, FTIR和XPS谱图. 由图2(A)可见, 在2θ=22.6°和43.2°处存在两个明显衍射峰, 分别对应(002)和(100)晶面, 是典型的无定形碳结构特征峰. 根据布拉格方程计算出HC中(002)晶面的层间距为0.405 nm, 与石墨[d(002)=0.335 nm]相比, HC扩展的层间结构能有效促进钠离子的嵌入/脱嵌. 从图2(B)可见, Raman光谱存在两个特征峰, 1343.7 cm-1处的D峰和1586.7 cm-1处的G峰, 分别与HC中缺陷碳和石墨化碳相关[16], ID/IG值高达1.04, 表明HC的高度无序, 这与TEM和XRD结果非常吻合. 由图2(C)可见, FTIR光谱上可以证明HC表面存在氧官能团(O—H, C=O和C—O). XPS光谱表明, HC样品中存在碳(C)和氧(O), 碳含量高达92.6%, 且不存在任何杂质[图2(D)]. 其中, C1s XPS光谱可以很好地拟合为以284.8, 285.2, 286.9和288.9 eV为中心的4个峰[图2(E)], 分别对应于C—C/C=C, C—O(C—OH或C—O—C), C=O和O=C—OH键. O1s XPS光谱的3个主要峰分别对应C=O(531.2 eV), C—O(532.4 eV)和O=C—OH(533.6 eV)键[图2(F)].
电化学阻抗谱(EIS)是研究电化学界面过程的一种重要方法. 从EIS能够得到关于HC电极界面反应机理信息, 不同电化学过程对应着特定的频率区域. EIS的高频区域主要反映界面过程, 中频区与电荷转移过程相关, 而低频区则是固相扩散过程. 图10为HC在3种电解液中的EIS谱图, 可见, HC电极均出现了相似的阻抗谱特征. 在开路电位为2.0 V时, EIS由半圆和斜线组成, 此电位下半圆可归纳为HC负极和集流体间的接触阻抗以及SEI膜阻抗. 随着电极电位降低, 中频区的斜线逐渐演变出一个半圆, 这与钠离子脱出而产生的电荷传递有关, 而斜线则是与钠离子在HC负极中固态扩散有关的 Warburg阻抗[22]. 随着电极电位的进一步降低, EIS谱没有发生明显变化.
为了阐明溶剂对SEI的作用机制, 通过XPS对不同电解液体系下形成的SEI膜进行表征, 重点观察其界面化学组成与关键元素存在状态. 图12为HC在3种不同电解液中, 在30 mA/g电流密度下充放电循环10次后的XPS谱图, 与循环前HC的XPS光谱[图2(D)~(F)]相比, 可见循环后HC表面元素成分发生显著变化, 这也说明SEI膜的形成. 通过对比, 可以发现循环后的HC电极在3种电解液中显示出大致相似的C1s, O1s 和F1s 峰, 这说明HC表面形成的SEI膜组成相似. HC电极在EC/PC电解液中的C1s XPS谱可拟合为4个峰, 分别位于284.8, 286.6, 288.2和289.4 eV处, 分别对应于C—C/C—H, C—O, C=O和O—C=O 或 CO3, 这些对应于溶剂副反应产生的有机化合物. 而O1s XPS谱可拟合成 3个峰, 分别位于531.54, 533.09和536.31 eV处, 对应于Na=O/C=O, C—O和O—F, 其中Na=O和 O—F的无机化合物, 主要是由NaPF6和溶剂配合物还原产生的[23]. F1s XPS谱可拟合成位于684.40和687.25 eV处的两个峰, 对应于Na—F和P—F, 主要来源于NaPF6分解产生的无机物. SEI膜中无机成分的相对含量与O—C=O(或RCO3)及Na—F峰的总峰面积呈现显著的相关性[24]. 通过对比可以发现, 在EC/PC/DMC电解液中的HC电极表面SEI膜表现出显著增大的F1s 特征峰强度, 而O1s 信号强度则相对降低, 表明该体系SEI膜以无机组分为主. 而富含无机成分的SEI膜可显著提高离子电导率, 从而降低钠离子脱溶剂化能垒, 提升界面离子的迁移速率, 从而改善电极反应动力学; 其次, 阴离子衍生的无机SEI层是致密且均匀的, 有利于提升电极/电解液界面的稳定性, 从而提高HC循环稳定性和首次库仑效率[25], 这与钠离子扩散系数计算和EIS测试结果几乎一致.
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