[1]Wang Z. L.. J. Phys : Condens Matter[J], 2004, 16: R829—R858
[2]Özgür Ü., Alivov Y. I., Liu C., Teke A., Reshchikov M. A., Doan S., Avrutin V., Cho S. J., Morko H.. J. Appl. Phys.[J], 2005, 98: 041301-1—041301-103
[3]Tang Z. K., Wong G. K. L., Yu P., Kawasaki M., Ohtomo A., Koinuma H., Segawa Y.. Appl. Phys. Lett.[J], 1998, 72: 3270—3272
[4]Guo B., Qiu Z. R., Wong K. S.. Appl. Phys. Lett.[J], 2003, 82: 2290—2292
[5]Mahalingam T., Lee K. M., Park K. H., Lee S., Ahn Y., Park J. Y., Koh K. H.. Nanotechnology[J], 2007, 18: 035606-1—035606-5
[6]Banerjee D., Lao J. Y., Wang D. Z., Huang J. Y., Steeves D., Kimball B., Ren Z. F.. Nanotechnology[J], 2004, 15: 404—409
[7]ZHOU Ze-Guang(周泽广), CHAI Chun-Fang(柴春芳), MI Yan(米艳), TAN Xue-Cai(谭学才), WU Jian(吴健), HUANG Zai-Yin(黄在银), YUAN Ai-Qun(袁爱群). Chem. J. Chinese Universities(高等学校化学学报)[J], 2007, 28 (10): 1812—1816
[8]Andelman T., Gong Y., Polking M., Yin M., Kuskovsky I., Neumark G., O′Brien S.. J. Phys. Chem. B[J], 2005, 109: 14314—14318
[9]Chen Y. F., Kim M., Lian G. D., Johnson M. B., Peng X. G.. J. Am. Chem. Soc.[J], 2005, 127: 13331—13337
[10]Wang Y. S., Thomas P. J., Brien P. O.. J. Phys. Chem. B[J], 2006, 110: 4099—4104
[11]Abdullah M., Lenggoro I. W., Okuyama K., Shi F. G.. J. Phys. Chem. B[J], 2003, 107: 1957—1961
[12]Xiong H. M., Wang Z. D., Xia Y. Y.. Adv. Mater.[J], 2006, 18: 748—751
[13]Fu Y. S., Du X. W., Kulinich S. A., Qiu J. S., Qin W. J., Li R., Sun J., Liu J.. J. Am. Chem. Soc.[J], 2007, 129: 16029—16033
[14]Chopra K. L., Major S., Pandaya D. K.. Thin Solid Films[J], 1983, 102: 1—46
[15]Tam K. H., Cheung C. K., Leung Y. H., Djuriic′ A. B., Ling C. C., Beling C. D., Fung S., Kwok W. M., Chan W. K., Phillips D. L., Ding L., Ge W. K.. J. Phys. Chem. B[J], 2006, 110: 20865—20871
[16]Studenikin S. A., Golego N., Cocivera M.. J. Appl. Phys.[J], 1998, 84: 2287—2294
[17]Cross R. B. M., de Souza M. M., Sankara Narayanan E. M.. Nanotechnology[J], 2005, 16: 2188—2292
[18]Greene L. E., Law M., Goldberger J., Kim F., Johnson J. C., Zhang Y. F., Saykally R. J., Yang P. D.. Angew. Chem. Int. Ed.[J], 2003, 42: 3031—3034
[19]Li D., Leung Y. H., Djuriic′ A. B., Liu Z. T., Xie M. H., Shi S. L., Xu S. J., Chan W. K.. Appl. Phys. Lett.[J], 2004, 85: 1601— 1603
[20]Xie R., Sekiguchi T., Ishigaki T., Li D. S.,Yang D. R., Liu B. D., Bando Y..Appl. Phys. Lett.[J], 2006, 88: 134103-1—134103-3
[21]Shi G. A., Stavola M., Pearton S. J., Thieme M., Lavrov E. V., Weber J.. Phys. Rev. B[J], 2005, 72: 195211-1—195211-8 |