高等学校化学学报 ›› 2013, Vol. 34 ›› Issue (7): 1585.doi: 10.7503/cjcu20130045
景蔚萱, 牛玲玲, 王兵, 陈路加, 齐含, 周帆, 蒋庄德
JING Wei-Xuan, NIU Ling-Ling, WANG Bing, CHEN Lu-Jia, QI Han, ZHOU Fan, JIANG Zhuang-De
摘要:
基于水浴法在光纤纤芯上合成了ZnO纳米线, 得到了圆柱形微纳米跨尺度结构. 将纳米级的随机粗糙表面叠加到微米级的圆柱形基底上, 实现了对圆柱形跨尺度结构表面形貌的仿真分析. 采用扫描电子显微镜(SEM)并结合Matlab图像处理算子对跨尺度结构的表面形貌和ZnO纳米线的几何特征参数进行了表征. 与ZnO纳米线薄膜实际轮廓提取出的特征参数相同, 对均方根粗糙度为39.2 nm、偏斜度为0.1324及峭度为2.7146的圆柱形粗糙表面进行了仿真, 验证了仿真表面与实际轮廓的一致性. 建立了合成工艺参数对ZnO纳米线的长度、直径及长径比等几何特征参数的影响关系, 确定最佳工艺条件为: 种子层溶液Zn2+浓度为1.0 mmol/L, 生长液Zn2+浓度为0.03 mol/L, 生长时间为1.5 h, 水浴恒温90℃.
中图分类号:
TrendMD: