[1] Vech t A.,Gibbon s C.,Davies D.et al..J.Vac.Sc.iTechno l.B[J],1999,17(2):750—757
[2] Bechtel H.,Niko l H..Proc.Electrochem.Soc.[J],1998,97(29):256—261
[3] Kang Y.C.,Park S.B..J.Phys.Chem.So lid[J],1999,60(2):379—384
[4] Kang Y.C.,Park S.B..Materials Research Bu lletin[J],2002,35(12):1 143—1 151
[5] Ren M.,Lin J.H.,Dong Y.et al..Chem.Mater.[J],1999,11(6):1 576—1 580
[6] Chadeyron G.,El-GhozziM.,Mah iou R.et al..J.So lid State Chem.[J],1997,128(2):261—266
[7] ZAHO Xin-Yu(赵新宇),ZHANG Yu(张 煜),GU Hong-Chen(古宏晨)et al..Chem.J.Ch inese Universities(高等学校化学学报)[J],1998,19(4):507—510
[8] Lim M.A.,Kang Y.C..J.Electrochem.Soc.[J],2001,148(12):171—175
[9] Levin E.M.,Ro th R.S.,Martin J.B..Am.Mineral[J],1961,46(10):1 030—1 038
[10] New nham R.E.,Redm an M.J.,San to ro R.P..J.Am.Ceram.Soc.[J],1963,46(2):240—253
[11] Ren M.,Lin J.H.,Dong Y..Chem.Mater.[J],1999,11:1 576—1 580
[12] Blasse G.,Bril A..Ph ilip s Res.Rep ts[J],1966,2:368—373
[13] Chadeyron G.,Mah iou R.,EL 2GhozziM.et al..J.Lum in.[J],1997,72—74:564—566 |