高等学校化学学报
利用Kelvin探针力显微镜研究纳米尺度下n-AlGaN/GaN薄膜的表面电荷性质
王凌凌 杨文胜 王德军 谢腾峰
Surface Charge Characteristics of n-AlGaN/GaN Heterostructures Films in Nano-scale by Kelvin Probe Force Microscopy in Vacuum
WANG LingLing YANG WenSheng WANG DeJun XIE TengFeng
高等学校化学学报 . 2011, (1): 139 -142 .