[1]Hamberg A., Gramquist G. G., J. Appl. Phys[J], 1986, 60: R123—R160
[2]Kawazoe H., Yanagi H., Ueda K., et al.. MRS Bull[J], 25(8), 28—36
[3]Pellicer-Porres J., Segura A., Phys. Rev. B[J], 2005, 72(6): 064301
[4]Benko F. A., Kottyberg F. P., J. Phys. Chem. Solids[J], 1984, 45: 57—59
[5]Ishiguro T., Ishizawa N., Mizutani N., et al.. J. Solid-State Chem.[J], 1983, 49(2): 232—236
[6]Shimode M., Sasaki M., Mukaida K., J. Solid-State Chem.[J], 2000, 151(1):16—20
[7]Benko F., Koffyberg F., MRS Bull[J],1986, 21(6): 753—757
[8]Ueda K., Hase T., Yanagi H., et al.. J. Appl. Phys[J], 2001, 89(3): 1790—1793
[9]Kakehi Y., Satoh K., Yotsuya T., et al.. J. Appl. Phys.[J], 2005, 97(8): 084301-1—084301-7
[10]Kudo A., Yanagi H., Hosono H., et al.. J. Appl. Phys.[J], 1998, 73(2): 220—222
[11]Ginley D. S., Bright C., MRS Bull[J], 2000, 25(8): 15—18
[12]Bian J. M., Li X. M., Cao X. D., et al.. Chem. Appl. Phys. Lett.[J], 2004, 84: 541—543
[13]Kawazoe H., Yasukawa M., Hyodo H., et al.. Nature[J], 1997, 389: 939—942
[14]Stauber R. E., Perkins J. D., et al.. Electrochem Solid-State Lett[J], 19991, 2: 654—656
[15]Baneriee A. N., Kundoo S., Chattopadhyay K. K., Thin Solid Films[J], 2003, 440: 5—10
[16]Baneriee A. N., Maity R., Chattopadhyay K. K., Matter Lett[J], 2003, 58: 10—13
[17]Ingram B. J., Harder B. J., Hrabe N. W., et al., Chem. Mater.[J], 2004, 16: 5623—5629
[18]Dong G., et al.. Vacuum[J], 2008, 82(11): 1321—1324
[19]Barbara F., John R., J. Appl. Phys.[J], 2007, 102: 123703-1—123703-5
[20]Yanagi H., Inoue S., Ueda K., et al., J. Appl. Phys.[J], 2000, 88: 4159