文莉2, 林仲华1, 翁少煌2, 周剑章1
WEN Li2, LIN Zhong-Hua1, WENG Shao-Huang2, ZHOU Jian-Zhang1*
摘要: 采用示差脉冲伏安法研究了自组装单层保护金纳米团簇(C8AuMPC)在常温下二氯甲烷溶液中的量子化电容充电效应. 研究结果表明, 该团簇在-0.8~0.8 V 电位范围内有4 对明显的量子化电容充电峰. 同时采用电化学阻抗谱对C8AuMPC修饰金电极体系的界面结构进行了表征, 研究结果表明, MPC自组装层存在两个界面, 即金电极-MPC层界面和MPC层-溶液界面; 这两个界面的界面电容在MPC的零电荷电位(ca.-0.2 V)附近均基本保持不变, 随着电位正移或负移到一定程度, 界面电容发生变化. 进一步利用双隧道结金属岛库仑阻塞效应理论讨论了已有报道中对MPC量子化电容充电的理论分析结果, 并证明电化学阻抗谱也是研究MPC量子化电容充电效应的有效方法. 另外, 用示差脉冲伏安法及循环伏安法研究了电活性物种二茂铁对C8AuMPC量子化电容充电的影响, 发现溶液中的电活性物种对MPC层-溶液界面的电子传递的贡献可以忽略, 表明该界面的电子传递主要发生在纳米粒子之间.
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