[1]Lo G. Q., Kwong D. L., Lee S.. Appl. Phys. Lett.
[J], 1993, 62: 973—975

[2]Shimizu K., Katayama M., Funaki H., et al.. J. Appl. Phys.
[J], 1993, 74: 375—380

[3]YAN Zhi-Qiao(闫志巧), XIONG Xiang(熊翔), XIAO Peng(肖鹏), et al.. J. Funct. Mater.(功能材料)
[J], 2006, 37(4): 511—514

[4]An C. H., Sugimoto K.. J. Electrochem. Soc.
[J], 1992, 139(7): 1956—1962

[5]Kukli K., Aarik J., Aidla A., et al.. Thin Solid Films
[J], 1995, 260: 135—142

[6]Aarik J., Aidla A., Kukli K., et al.. J. Cryst. Growth
[J], 1994, 144: 116—119

[7]Aarik J., Kukli K., Aidla A., et al.. Appl. Surf. Sci.
[J], 1996, 103: 331—341

[8]Ren J., Hu Y., Wang J., et al.. Thin Solid Films
[J], 2008, 516: 2966—2972

[9]Ren J., Sun B., Zhang D. W.. Appl. Surf. Sci.
[J], 2007, 253: 9148—9153

[10]Ren J., Lu H. L., Chen W., et al.. Appl. Surf. Sci.
[J], 2006, 252: 8466—8470

[11]Siodmiak M., Frenking G., Korkin A.. J. Phys. Chem. A
[J], 2000, 104: 1186—1195

[12]Frisch M. J., Trucks G. W., Schlegel H. B., et al.. Gaussian 03, Revision D.01
[CP], Pittsburgh PA: Gaussian Inc., 2004

[13]Becke A. D.. J. Chem. Phys.
[J], 1993, 98(7): 5648—5652

[14]Becke A. D.. Phys. Rev. A
[J], 1988, 38(6): 3098—3100

[15]Lee C., Yang W., Parr R. G.. Phys. Rev. B
[J], 1988, 37(2): 785—789

[16]ZHOU Zhong-Jun(周中军), LIU Hui-Ling(刘慧玲), HUANG Xu-Ri(黄旭日), et al.. Chem. J. Chinese Universities(高等学校化学学报)
[J], 2008, 29(8): 1641—1643